В мостовых схемах, построенных на быстрых МДП - транзисторах, могут возникнуть следующие отказы
Другие предметы Университет Отказы в мостовых схемах на основе МДП-транзисторов силовая электроника мостовые схемы МДП-транзисторы отказы транзисторов открытие нижнего транзистора заряд входной емкости пороговый уровень паразитный биполярный транзистор выключение обратного диода закрытие нижнего транзистора внутренний обратный диод
В мостовых схемах, использующих быстрые МДП-транзисторы, могут возникать различные отказы, которые могут негативно повлиять на их работу. Давайте рассмотрим каждую из упомянутых ситуаций подробнее.
Когда нижний транзистор открывается, его входная емкость может накапливать заряд. Если этот заряд превышает пороговое напряжение, транзистор может случайно открыться, что приведет к нежелательному состоянию в схеме. Это может произойти, если управление транзистором неэффективно или если есть помехи в сигнале управления.
Внутренний обратный диод может вести себя как биполярный транзистор. При выключении, если напряжение на аноде диода становится выше, чем на катоде, это может привести к открытию паразитного биполярного транзистора. Это открытие может вызвать нежелательные токи и повредить схему.
При закрытии нижнего транзистора, если входная емкость все еще заряжена выше порогового уровня, это может привести к тому, что транзистор не сможет полностью закрыться. Это может вызвать утечку тока и снизить эффективность работы схемы.
Когда внутренний обратный диод выключается, паразитный биполярный транзистор также может закрываться. Однако, если это происходит неэффективно, может возникнуть ситуация, когда транзистор не полностью закрывается, что также может привести к нежелательным последствиям в работе схемы.
Каждый из этих отказов может существенно повлиять на работу мостовой схемы. Поэтому важно учитывать их при проектировании и эксплуатации схем на основе МДП-транзисторов, а также применять соответствующие методы защиты и управления для минимизации рисков.